Pushing the limits of deep-ultraviolet scanning near-field optical microscopy
Deep-ultraviolet (DUV) microscopy and microspectroscopy have received much attention in label-free live-cell imaging, selective molecular analysis, and optical characterizations of ultrawide bandgap materials. Far-field optics approaches usually suffer from the diffraction limit of light. Meanwhile,...
Պահպանված է:
| Հիմնական հեղինակներ: | , , |
|---|---|
| Ձևաչափ: | Artigo |
| Լեզու: | Inglês |
| Հրապարակվել է: |
AIP Publishing LLC
2019-07-01
|
| Շարք: | APL Photonics |
| Առցանց հասանելիություն: | http://dx.doi.org/10.1063/1.5097865 |
| Ցուցիչներ: |
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|