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Genome-based mutant RNA mapping identifies an NLR pair underlying Yr6-mediated stripe rust resistance in wheat

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Detalhes bibliográficos
Principais autores: Shuo Huang, Lu Zhang, Jiabao Liang, Yi Ouyang, Yurong Yan, Huike Ju, Yaxin Wang, Hao Zhang, Taiguo Liu, Chunlei Tang, Xiaojie Wang, Yajun Wang
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: Elsevier 2026-01-01
coleção:Plant Communications
Acesso em linha:http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2590346225003049
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