Analysis of Channel Potential Recovery According to the Back Pattern in 3D NAND Flash Memory
This study analyzed the recovery of channel potential according to the program states of adjacent cells. When the verify operation ended, and all voltages dropped to 0 V and the decreased potential of the floating channel caused by the down-coupling phenomenon was recovered continuously over time, r...
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | , , , |
|---|---|
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
MDPI AG
2023-03-01
|
| Loạt: | Applied Sciences |
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://www.mdpi.com/2076-3417/13/6/3388 |
| Các nhãn: |
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|