CALIBRATION OF THE SYSTEM USED FOR CONDUCTOR INSPECTION AT MICROCHIP SUBSTRATE
The article describes the calibration method of the photometric system for a particular purpose of estimation position of the conductor connecting the semiconductor chip and the substrate. A nonlinear model of the camera lens distortion, which allows estimating the position of the conductor in a thr...
Պահպանված է:
| Հիմնական հեղինակ: | |
|---|---|
| Ձևաչափ: | Artigo |
| Լեզու: | Russo |
| Հրապարակվել է: |
Educational institution «Belarusian State University of Informatics and Radioelectronics»
2019-06-01
|
| Շարք: | Доклады Белорусского государственного университета информатики и радиоэлектроники |
| Խորագրեր: | |
| Առցանց հասանելիություն: | https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/229 |
| Ցուցիչներ: |
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|