Citazioni del record
Citazione Stile APA (7a Edizione)
Kiene, G., Ilik, S., Mastrodomenico, L., Babaie, M., & Sebastiano, F. (2024). Cryogenic Characterization of Low-Frequency Noise in 40-nm CMOS. IEEE.
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Citazione stile Chigago Style (17a edizione)
Kiene, Gerd, Sadik Ilik, Luigi Mastrodomenico, Masoud Babaie, e Fabio Sebastiano. Cryogenic Characterization of Low-Frequency Noise in 40-nm CMOS. IEEE, 2024.
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Citatione MLA (9a ed.)
Kiene, Gerd, et al. Cryogenic Characterization of Low-Frequency Noise in 40-nm CMOS. IEEE, 2024.
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