UN ESTUDIO CON ESPECTROSCOPÍA RAMAN DE PELÍCULAS DELGADAS DE SILICIO MICROCRISTALINO DOPADO TIPO P
Se estudian las propiedades estructurales, ópticas y eléctricas de películas delgadas microcristalinas de silicio tipo p, depositadas a muy baja temperatura en función de la concentración de diborano en los gases de reacción y de la naturaleza del sustrato. Las películas fueron depositadas; sobre vi...
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| Autores principales: | , , , , |
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| Formato: | Artigo |
| Lenguaje: | Espanhol |
| Publicado: |
CEILAP-UNIDEF-CONICET-CITEDEF
2013-07-01
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| Colección: | Anales (Asociación Física Argentina) |
| Acceso en línea: | https://anales.fisica.org.ar/index.php/analesafa/article/view/915 |
| Etiquetas: |
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