Review: Cantilever-Based Sensors for High Speed Atomic Force Microscopy
This review critically summarizes the recent advances of the microcantilever-based force sensors for atomic force microscope (AFM) applications. They are one the most common mechanical spring–mass systems and are extremely sensitive to changes in the resonant frequency, thus finding numerous applica...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , |
|---|---|
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
MDPI AG
2020-08-01
|
| سلاسل: | Sensors |
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://www.mdpi.com/1424-8220/20/17/4784 |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|