A Low-Overhead and High-Security Scan Design Based on Scan Obfuscation

Scan-based side-channel attacks have been proven to be popular attack methods against cryptographic chips. In these attacks, attackers can use scan chains inside a chip to obtain internal sensitive information of the chip, such as crypto key or other secret data. To counteract scan-based side-channe...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلفون الرئيسيون:	Weizheng Wang, Xingxing Gong, Shuo Cai, Jiamin Liu, Xiangqi Wang
التنسيق:	Artigo
اللغة:	Inglês
منشور في:	IEEE 2024-01-01
سلاسل:	IEEE Access
الموضوعات:	Cryptographic chips design for testability scan obfuscation scan-based side-channel attacks
الوصول للمادة أونلاين:	https://ieeexplore.ieee.org/document/10767141/
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!