Lifetime Prediction of Current-and Temperature-Induced Degradation in Silicone-Encapsulated 365 nm High-Power Light-Emitting Diodes

We report on the degradation mechanisms and dynamics of silicone encapsulated ultraviolet A (UV-A) high-power light-emitting diodes (LEDs), with a peak wavelength of <inline-formula> <tex-math notation="LaTeX">${\mathrm {365~ \text {n} \text {m} }}$ </tex-math></inline-formula>. The stress tests wer...

Szczegółowa specyfikacja

Opis bibliograficzny

Główni autorzy:	Alexander Herzog, Simon Benkner, Babak Zandi, Matteo Buffolo, Willem D. Van Driel, Matteo Meneghini, Tran Quoc Khanh
Format:	Artigo
Język:	Inglês
Wydane:	IEEE 2023-01-01
Seria:	IEEE Access
Hasła przedmiotowe:	Light-emitting diode (LED) degradation UV-A lifetime prediction reliability lens cracking
Dostęp online:	https://ieeexplore.ieee.org/document/10054008/
Etykiety:	Dodaj etykietę Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!