TOPICAL REVIEW: Active nanocharacterization of nanofunctional materials by scanning tunneling microscopy
Recent developments in the application of scanning tunneling microscopy (STM) to nanofabrication and nanocharacterization are reviewed. The main focus of this paper is to outline techniques for depositing and manipulating nanometer-scale structures using STM tips. Firstly, the transfer of STM tip ma...
சேமிக்கப்பட்டது:
| முதன்மை ஆசிரியர்: | |
|---|---|
| வடிவம்: | Artigo |
| மொழி: | Inglês |
| வெளியிடப்பட்டது: |
Taylor & Francis Group
2008-01-01
|
| தொடர்: | Science and Technology of Advanced Materials |
| பொருள்கள்: | |
| ஆன்லைன் அணுகல்: | http://www.iop.org/EJ/abstract/1468-6996/9/1/013003 |
| குறிச்சொற்கள்: |
டாக்ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!
|