Longitudinal profile diagnostic scheme with subfemtosecond resolution for high-brightness electron beams
High-resolution measurement of the longitudinal profile of a relativistic electron beam is of utmost importance for linac based free-electron lasers and other advanced accelerator facilities that employ ultrashort bunches. In this paper, we investigate a novel scheme to measure ultrashort bunches (s...
சேமிக்கப்பட்டது:
| முதன்மை ஆசிரியர்கள்: | , , , , , , |
|---|---|
| வடிவம்: | Artigo |
| மொழி: | Inglês |
| வெளியிடப்பட்டது: |
American Physical Society
2011-07-01
|
| தொடர்: | Physical Review Special Topics. Accelerators and Beams |
| ஆன்லைன் அணுகல்: | http://doi.org/10.1103/PhysRevSTAB.14.072802 |
| குறிச்சொற்கள்: |
டாக்ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!
|