1．3μm InGaAsP／InP RWG型激光器的可靠性
通过对１．３μｍＩｎＧａＡｓＰ／ＩｎＰＲＷＧ型激光器的加速老化寿命试验，证明了此种结构激光器的可靠性，它在环境温度为５０℃、１００ｍＡＣＷ及环境温度为８０℃、１００ｍＡＣＷ的条件下加速老化，经过３２２０ｈ的实际测试共计１９３２００器件小时，在测试过程中没有一支器件失效。在这样的条件下其５０℃下的外推寿命ＭＴＴＦ为２０万ｈ，其统计标准偏差为σ＝１．０１６；８０℃下的外推寿命ＭＴＴＦ为３．８万ｈ，其统计标准偏差为σ＝０．８０４，从而推算出该结构激光器的退化激活能Ｅａ＝０．５４３ｅＶ，其２５℃下的寿命ＭＴＴＦ为１０３万ｈ。
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| Principais autores: | , , , , , , |
|---|---|
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Chinês |
| Publicado em: |
《光通信研究》编辑部
1994-01-01
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| Colecção: | Guangtongxin yanjiu |
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | http://www.gtxyj.com.cn/thesisDetails?columnId=27502870&Fpath=home&index=0 |
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