Signal-to-Noise Ratio in Scanning Electron Microscopy: A Comprehensive Review
Scanning Electron Microscopy (SEM) is critical in nanotechnology, materials science, and biological imaging due to its high spatial resolution and depth of focus. Signal-to-noise ratio (SNR) is an essential parameter in SEM because it directly impacts the quality and interpretability of the images....
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| Principais autores: | , , , |
|---|---|
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Inglês |
| Publicado em: |
IEEE
2025-01-01
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| Colecção: | IEEE Access |
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://ieeexplore.ieee.org/document/11142276/ |
| Tags: |
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