QR kód

Correction: Direct investigation of localized leakage currents in GaN-on-sapphire pn-diodes

Uloženo v:
Hlavní autoři: Alexander D. Kinstler, Richard Neumann, Aidan Arthur Taylor, Sven Besendörfer, Elke Meissner, Roland Weingärtner, Frank Brunner, Enrico Brusaterra, Eldad Bahat Treidel, Jörg Schulze
Médium: Artigo
Jazyk:Inglês
Vydáno: Nature Portfolio 2026-05-01
Edice:Scientific Reports
On-line přístup:https://doi.org/10.1038/s41598-026-53284-y
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Podobné jednotky