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Vertical and Lateral Etch Survey of Ferroelectric AlN/Al<sub>1−x</sub>Sc<sub>x</sub>N in Aqueous KOH Solutions

Due to their favorable electromechanical properties, such as high sound velocity, low dielectric permittivity and high electromechanical coupling, Aluminum Nitride (AlN) and Aluminum Scandium Nitride (Al<sub>1−x</sub>Sc<sub>x</sub>N) thin films have achieved widespread application in radio frequency...

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Dettagli Bibliografici
Autori principali: Zichen Tang, Giovanni Esteves, Jeffrey Zheng, Roy H. Olsson
Natura: Artigo
Lingua:Inglês
Pubblicazione: MDPI AG 2022-07-01
Serie:Micromachines
Soggetti:
Accesso online:https://www.mdpi.com/2072-666X/13/7/1066
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