初探化学合成制粉工艺对ZnO压敏电阻U<sub>1mA</sub>/mm值的影响 附视频
用电子探针对比观测了采用化学共沉淀法制粉和机械混合法制粉的压敏电阻的微观结构；得出化学合成制粉工艺使压敏电阻U1mA／mm升高的原因是由于粉料组分的均匀分布使得其晶界组分的浓度均匀且高于机械混合制粉阀片中的晶界组分贫化区浓度，从整体上抑制了烧结过程中的晶粒长大。
Guardat en:
| Autors principals: | , , , , |
|---|---|
| Format: | Artigo |
| Idioma: | Chinês |
| Publicat: |
Editorial Department of Insulators and Surge Arresters
1998-01-01
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| Col·lecció: | Dianci bileiqi |
| Matèries: | |
| Accés en línia: | http://www.dcblq.com/thesisDetails#10.16188/j.isa.1003-8337.1998.01.007 |
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