Measuring Nanoscale Distances by Structured Illumination Microscopy and Image Cross-Correlation Spectroscopy (SIM-ICCS)

Since the introduction of super-resolution microscopy, there has been growing interest in quantifying the nanoscale spatial distributions of fluorescent probes to better understand cellular processes and their interactions. One way to check if distributions are correlated or not is to perform coloca...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ

Հիմնական հեղինակներ:	Isotta Cainero, Elena Cerutti, Mario Faretta, Gaetano Ivan Dellino, Pier Giuseppe Pelicci, Alberto Diaspro, Luca Lanzanò
Ձևաչափ:	Artigo
Լեզու:	Inglês
Հրապարակվել է:	MDPI AG 2021-03-01
Շարք:	Sensors
Խորագրեր:	super-resolution microscopy structured illumination microscopy SIM image correlation spectroscopy image cross-correlation spectroscopy ICCS
Առցանց հասանելիություն:	https://www.mdpi.com/1424-8220/21/6/2010
Ցուցիչներ:	Ավելացրեք ցուցիչ Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!