Capacitance Properties in Ba<sub>0.3</sub>Sr<sub>0.7</sub>Zr<sub>0.18</sub>Ti<sub>0.82</sub>O<sub>3</sub> Thin Films on Silicon Substrate for Thin Film Capacitor Applications
Crystalline Ba<sub>0.3</sub>Sr<sub>0.7</sub>Zr<sub>0.18</sub>Ti<sub>0.82</sub>O<sub>3</sub> (BSZT) thin film was grown on Pt(111)/Ti/SiO<sub>2</sub>/Si substrate using radio frequency (RF) magnetron sputtering. Based on our best knowledge, there are few reports in the literature to prepare the perov...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , |
|---|---|
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
MDPI AG
2020-04-01
|
| سلاسل: | Crystals |
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://www.mdpi.com/2073-4352/10/4/318 |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|