Determination of thin film refractive index and thickness by means of film phase thickness
Enregistré dans:
| Auteurs principaux: | , |
|---|---|
| Format: | Artigo |
| Langue: | Inglês |
| Publié: |
De Gruyter
2008-06-01
|
| Collection: | Open Physics |
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | https://doi.org/10.2478/s11534-008-0035-z |
| Tags: |
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|