Defect imaging and detection of precipitates using a new scanning positron microbeam
We report on a newly developed scanning positron microbeam based on threefold moderation of positrons provided by the high intensity positron source NEPOMUC. For brightness enhancement a remoderation unit with a 100 nm thin Ni(100) foil and 9.6% efficiency is applied to reduce the area of the beam s...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | , , , , , , |
|---|---|
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
IOP Publishing
2017-01-01
|
| মালা: | New Journal of Physics |
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://doi.org/10.1088/1367-2630/aa915b |
| ট্যাগগুলো: |
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|