रिकॉर्ड उद्धरण

APA (7 वां संस्करण) प्रशस्ति पत्र
Cheng, L., Xu, Z., & Dong, B. (2026). Confocal Raman spectroscopy characterization of heteroepitaxial interfacial stress of GaN on sapphire substrate. AIP Publishing LLC.
शिकागो शैली (17वां संस्करण) प्रशस्ति पत्र
Cheng, Luya, Zongwei Xu, और Bing Dong. Confocal Raman Spectroscopy Characterization of Heteroepitaxial Interfacial Stress of GaN on Sapphire Substrate. AIP Publishing LLC, 2026.
एमएलए (9वां संस्करण) प्रशस्ति पत्र
Cheng, Luya, et al. Confocal Raman Spectroscopy Characterization of Heteroepitaxial Interfacial Stress of GaN on Sapphire Substrate. AIP Publishing LLC, 2026.
चेतावनी: ये उद्धरण हमेशा 100% सटीक नहीं हो सकते हैं.