Citações do registo
Citação APA (7ª ed.)
Su, S., Cao, Y., Zhang, W., Zhang, X., Chen, C., Wu, L., . . . Hao, Y. (2025). Damage Mechanism Analysis of High Field Stress on Cascode GaN HEMT Power Devices. MDPI AG.
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Citação do estilo Chicago (17ª ed.)
Su, Shuo, et al. Damage Mechanism Analysis of High Field Stress on Cascode GaN HEMT Power Devices. MDPI AG, 2025.
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Citação MLA (9ª ed.)
Su, Shuo, et al. Damage Mechanism Analysis of High Field Stress on Cascode GaN HEMT Power Devices. MDPI AG, 2025.
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