Record citatie
APA (7e ed.) Bronvermelding
Fu, L., Yan, Z., Fu, C., & Su, D. (2021). Extraction and Analysis of Conducted Electromagnetic Susceptibility Elements of Integrated Circuits. IEEE.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
Chicago (17e ed.) Bronvermelding
Fu, Lu, Zhaowen Yan, Changshun Fu, en Donglin Su. Extraction and Analysis of Conducted Electromagnetic Susceptibility Elements of Integrated Circuits. IEEE, 2021.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
MLA (9e ed.) Bronvermelding
Fu, Lu, et al. Extraction and Analysis of Conducted Electromagnetic Susceptibility Elements of Integrated Circuits. IEEE, 2021.
Met succes gekopieerd naar Clipboard
Kopiëren naar Clipboard is mislukt
Let op: Deze citaties zijn niet altijd 100% accuraat.