Dual-Subspace Network for Few-Shot Fine-Grained Image Classification

Few-shot fine-grained image classification aims to recognize subcategories with high visual similarity using only a limited number of annotated samples. Existing metric learning-based methods typically rely solely on spatial-domain features. Confined to this single perspective, models inevitably suf...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ

Հիմնական հեղինակներ:	Meijia Wang, Guochao Wang, Haozhen Chu, Bin Yao, Weichuan Zhang, Yuan Wang, Junpo Yang
Ձևաչափ:	Artigo
Լեզու:	Inglês
Հրապարակվել է:	MDPI AG 2026-05-01
Շարք:	Applied Sciences
Խորագրեր:	few-shot learning fine-grained image classification frequency domain feature decoupling subspace learning metric learning
Առցանց հասանելիություն:	https://www.mdpi.com/2076-3417/16/10/4664
Ցուցիչներ:	Ավելացրեք ցուցիչ Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!