Mise em evidence D’une phase haut temperature dans lê systeme AgTITe-HgTe par difraction des rayons X en chamber de guinier
A técnica de difração dos Raios X em câmara de Guinier é utilizada para estudar uma fase alta temperatura no sistema AgTITe-HgTe. As composições estudadas correspondem a 35, 50, 60 e 75 mol % em HgTe. Os difratogramas de cada amostra são apresentados e interpretados.
Guardat en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Format: | Artigo |
| Idioma: | Inglês |
| Publicat: |
Universidade Estadual de Londrina
2004-12-01
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| Col·lecció: | Semina: Ciências Exatas e Tecnológicas |
| Matèries: | |
| Accés en línia: | https://ojs.uel.br/revistas/uel/index.php/semexatas/article/view/2676 |
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