Ab initio nonrigid X-ray nanotomography
Radiation induced sample deformation can be a limiting factor for X-ray imaging resolution at the nanoscale. The authors report a tomographic model that estimates and accounts for morphological changes during data acquisition and enables reconstruction of a high-resolution image ab initio.
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| Principais autores: | , , , , , , , |
|---|---|
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Inglês |
| Publicado em: |
Nature Portfolio
2019-06-01
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| coleção: | Nature Communications |
| Acesso em linha: | https://doi.org/10.1038/s41467-019-10670-7 |
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