基于电磁波频谱的棒形悬式复合绝缘子内部缺陷放电检测方法
分析了棒形悬式复合绝缘子绝缘内部缺陷放电的故障形成机理及过程,依据发展不同时期的严重程度,提出相应的故障模拟方法。通过仿真计算绝缘子高压端及故障位置的电场畸变情况,验证故障模拟方法的可靠性。测量不同故障状态下棒形悬式复合绝缘子故障放电辐射的电磁波频谱,得出不同故障放电的幅频特性。同时通过紫外成像仪观察故障处的放电光子数,对比不同严重程度内部故障情况下的放电情况。试验结果证明,通过检测棒形悬式复合绝缘子加电压时缺陷处辐射电磁波的幅频特性,可以判断绝缘是否发生故障及故障的严重程度,为线路巡检故障棒形悬式复合绝缘子提供了新的方法。
Tallennettuna:
| Päätekijät: | , , , , , , |
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| Aineistotyyppi: | Artigo |
| Kieli: | Chinês |
| Julkaistu: |
Editorial Department of Insulators and Surge Arresters
2015-01-01
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| Sarja: | Dianci bileiqi |
| Aiheet: | |
| Linkit: | http://www.dcblq.com/thesisDetails#10.16188/j.isa.1003-8337.2015.06.010 |
| Tagit: |
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