بررسی اثر ضخامت لایههای نازک ZnO تهیه شده به روش اسپری بر روند رشد و خواص ساختاری و اپتیکی آن
در این پژوهش، لایه های نازک اکسید روی با ضخامت های متفاوت بین 46 تا 317 نانومتر بر روی زیرلایه شیشه به روش اسپری لایه نشانی شده اند. موفولوژی و میزان زبری سطح لایه ها با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی ( SEM ) و میکروسکوپ نیروی اتمی ( AFM ) اندازهگیری شده اند. تصاویر AFM و SEM لایهها نشان مید...
में बचाया:
| मुख्य लेखकों: | , |
|---|---|
| स्वरूप: | Artigo |
| भाषा: | Persa |
| प्रकाशित: |
Alzahra University
2013-06-01
|
| श्रृंखला: | فیزیک کاربردی ایران |
| विषय: | |
| ऑनलाइन पहुंच: | https://jap.alzahra.ac.ir/article_1191_8d8ee67ac53964e393aa80372c74a881.pdf |
| टैग: |
कोई टैग नहीं, इस रिकॉर्ड को टैग करने वाले पहले व्यक्ति बनें!
|