GIS中自由金属微粒缺陷局部放电信号特征分析
自由金属微粒是影响GIS设备安全稳定运行的主要缺陷之一,为了进一步分析其产生的局部放电特性,文中设计了可等效模拟真实缺陷的独立密封试验模型,通过调节外施电压、微粒尺寸、微粒个数等措施,对微粒缺陷引发的局部放电PRPD谱图、n-φ谱图进行特征提取,并分析了特征形成的原因,尤其结合微粒运动形态,对各阶段微粒所带电荷的转移、中和现象进行阐述,为后续的研究和现场检测工作提供参考。
Պահպանված է:
| Հիմնական հեղինակներ: | , , , , , , |
|---|---|
| Ձևաչափ: | Artigo |
| Լեզու: | Chinês |
| Հրապարակվել է: |
Editorial Department of High Voltage Apparatus
2020-01-01
|
| Շարք: | Gaoya dianqi |
| Խորագրեր: | |
| Առցանց հասանելիություն: | http://www.zgydq.com/zh/article/doi/10.13296/j.1001-1609.hva.2020.11.022/ |
| Ցուցիչներ: |
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|