Codice QR

A multi-point calibration method for electron probe microanalysis (EPMA) of indium in sphalerite (ZnS)

Abstract This article presents a multi-point calibration approach for electron probe microanalysis (EPMA) for the trace element analysis of indium in sphalerite (ZnS). To define a multi-point calibration curve, indium and cadmium-doped ZnS crystals in a concentration range from 0 (blank) to ~ 1500 µ...

Descrizione completa

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autori principali: Thomas Schirmer, Thomas Ulrich
Natura: Artigo
Lingua:Inglês
Pubblicazione: Nature Portfolio 2025-03-01
Serie:Scientific Reports
Soggetti:
Accesso online:https://doi.org/10.1038/s41598-025-91085-x
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!