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Characterization of Alpha Particle Track Lengths in LR-115 Detectors

We investigate the dependence of the maximum etched track length (<inline-formula><math xmlns="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" display="inline"><semantics><msub><mi>L</mi><mi>max</mi></msub></semantics></math></inline-formula>) on alpha-particle energy and incidence angle in LR-115 type II nucle...

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Principais autores: Luiz Augusto Stuani Pereira, Carlos Alberto Tello Sáenz
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: MDPI AG 2025-11-01
coleção:Physics
Assuntos:
LR-115
chemical etching
maximum track length
track detection critical angle
Acesso em linha:https://www.mdpi.com/2624-8174/7/4/56
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