Direct probing of semiconductor barium titanate via electrostatic force microscopy Sondagem direta de titanato de bário semicondutorpor meio de microscopia de força eletrostática

Electrostatic force microscopy (EFM) was used to directly probe surface potential in doped barium titanate semiconducting ceramics. EFM measurements were performed using noncontact scans at a constant tip-sample separation of 75 nm with varied bias voltages applied to the sample. The applied voltage...

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Detalhes bibliográficos

Principais autores:	S. M. Gheno, H. L. Hasegawa, P. I. Paulin Filho
Formato:	Artigo
Idioma:	Inglês
Publicado em:	Associação Brasileira de Cerâmica 2007-06-01
coleção:	Cerâmica
Assuntos:	microscopia de força eletrostática potencial elétrico barreiras titanato de bário electrostatic force microscopy electric potential barriers barium titanate
Acesso em linha:	http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0366-69132007000200015
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