原子荧光法测汞的校准研究
使用原子荧光光度计测汞时,发现汞的测定值逐渐升高,而且低浓度样品受到的影响更大。通过实验分析查找原因,认为主要是记忆效应和基线漂移的影响,因此在实验过程中需要扣除这些影响,进行样品空白校正;但是当基线漂移到一定程度,偏离度达到RSD>10%时,或者每测定20个样品后,就需要重新绘制校准曲线再测定,以达到质量控制的要求。
Збережено в:
| Автори: | , , |
|---|---|
| Формат: | Artigo |
| Мова: | Chinês |
| Опубліковано: |
Editorial Office of Industrial Water Treatment
2016-01-01
|
| Серія: | Gongye shui chuli |
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | http://www.iwt.cn/thesisDetails#10.11894/1005-829x.2016.36(3).090 |
| Теги: |
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|