Constraint-Aware Robustness and Multi-Objective Synthesis of Multi-Layer DUV Interference Coatings
The evolution of 193 nm deep-ultraviolet (DUV) lithography toward high numerical aperture (NA > 1.35) presents challenges approaching physical limits for antireflective (AR) coatings on strongly curved lens elements. In this study, a full-stack multi-objective optimization framework is developed by...
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| Principais autores: | , |
|---|---|
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Inglês |
| Publicado em: |
MDPI AG
2026-06-01
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| coleção: | Modelling |
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://www.mdpi.com/2673-3951/7/3/117 |
| Tags: |
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