Κώδικας QR

Product Inspection Methodology via Deep Learning: An Overview

In this study, we present a framework for product quality inspection based on deep learning techniques. First, we categorize several deep learning models that can be applied to product inspection systems. In addition, we explain the steps for building a deep-learning-based inspection system in detai...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Tae-Hyun Kim, Hye-Rin Kim, Yeong-Jun Cho
Μορφή: Artigo
Γλώσσα:Inglês
Έκδοση: MDPI AG 2021-07-01
Σειρά:Sensors
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:https://www.mdpi.com/1424-8220/21/15/5039
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!