Frecuencia de resonancia en superficies selectivas en frecuencia tipo bucle cuadrado
El análisis paramétrico usado en la determinación de los efectos de los parámetros geométricos y los asociados al dieléctrico en Superficies Selectivas en Frecuencia (SSF), es una herramienta de uso generalizado debido a la ausencia de formulaciones que permitan evaluar este tipo de efectos. El obje...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , |
|---|---|
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
Universidad Distrital Francisco José de Caldas
2018-10-01
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| سلاسل: | Visión Electrónica |
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://revistas.udistrital.edu.co/index.php/visele/article/view/14461 |
| الوسوم: |
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