Mã QR

A Dual Deep Neural Network Approach for Discriminating Internal Faults and Inrush Currents in Transformers Under CT Saturation

The dependability and security of transformer differential protection can be compromised by current transformer (CT) saturation, which distorts current measurements and may lead to the maloperation of protective relays. This paper proposes a dual deep neural network (dual-DNN) approach to accurately...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Sopheap Key, Soupheng Leap, Seong-Min Yoon, Heungseok Lee, Soon-Ryul Nam
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: IEEE 2025-01-01
Loạt:IEEE Access
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://ieeexplore.ieee.org/document/11196902/
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!