Structural, dielectric and ferroelectric characterization of PZT thin films
In this work ferroelectric thin films of PZT were prepared by the oxide precursor method, deposited on Pt/Si substrate. Films of 0.5 mm average thickness were obtained. Electrical and ferroelectric characterization were carried out in these films. The measured value of the dielectric constant for fi...
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | , |
|---|---|
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
Associação Brasileira de Cerâmica
1999-01-01
|
| Loạt: | Cerâmica |
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0366-69131999000200010 |
| Các nhãn: |
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|