From the bottom up – measuring bulk mechanical properties via microtechnology
Bewaard in:
| Hoofdauteurs: | , , |
|---|---|
| Formaat: | Artigo |
| Taal: | Inglês |
| Gepubliceerd in: |
EDP Sciences
2010-06-01
|
| Reeks: | EPJ Web of Conferences |
| Online toegang: | http://dx.doi.org/10.1051/epjconf/20100640001 |
| Tags: |
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|