Miedo y riesgo tecnológico en el catastrofismo filosófico de Jean Pierre Dupuy y Paul Virilio
<p>En este trabajo se presentarán y evaluarán las tesis filosóficas de Jean Pierre Dupuy y Paul Virilio sobre el miedo que generan las consecuencias negativas derivadas de la puesta en marcha de algunos de los sistemas tecnológicos que dan forma al mundo contemporáneo. Si bien ambos autores ponen el...
Wedi'i Gadw mewn:
| Prif Awdur: | |
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| Fformat: | Artigo |
| Iaith: | Inglês |
| Cyhoeddwyd: |
Universidad de Salamanca
2018-04-01
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| Cyfres: | Artefactos |
| Pynciau: | |
| Mynediad Ar-lein: | https://revistas.usal.es/index.php/artefactos/article/view/17764 |
| Tagiau: |
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