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Reassessing the Practical Resolution Limits in Compact Ultrafast Electron Diffraction

Ultrafast electron diffraction (UED) is a powerful tool for probing atomic-scale dynamics with femtosecond temporal resolution and angstrom-level spatial precision. It enables direct observation of structural changes in non-equilibrium systems, including photoinduced transformations, phase transitio...

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Detalhes bibliográficos
Principais autores: Sam Netzke, Christian Viernes, Kostyantyn Pichugin, Sam Keramati, Jiayang Jiang, R. J. Dwayne Miller, German Sciaini
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: American Association for the Advancement of Science (AAAS) 2026-01-01
coleção:Ultrafast Science
Acesso em linha:https://spj.science.org/doi/10.34133/ultrafastscience.0148
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