Employing Surface Curvature for Spatially Resolved X‐Ray Reflectivity: Graphene Domains on Liquid Copper
Abstract Here the possibility of utilizing X‐ray reflectivity for visualization with ≈µm spatial resolution of a surface with a heterogeneous electron density due to a partial coverage by another nanometrically thin material is demonstrated. It requires the sample to be convexly bent, thus reflectin...
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | , , , , , |
|---|---|
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
Wiley-VCH
2023-05-01
|
| Loạt: | Advanced Materials Interfaces |
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://doi.org/10.1002/admi.202300053 |
| Các nhãn: |
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|