GIS设备气密封O型圈老化及其使用寿命的试验研究
O型密封圈广泛应用于GIS设备中。为了研究O型圈的老化及老化后的永久变形情况,文中设计了一种老化试验的方法,依据该方法进行老化试验并收集了不同温度下的试验结果。同时介绍了一种数据处理方法,依据该方法对试验结果进行处理,获得不同温度下的密封圈使用寿命预测值。根据文中试验研究结果可以得到:GIS设备气密封O型圈压缩永久变形率,与老化时间及老化温度均正相关,且老化过程遵循阿伦尼乌斯关系;在密封圈工作温度为70℃的情况下,其使用寿命为2.5年。利用文中的方法及结论可以指导GIS设备运维人员对密封圈使用寿命进行评估分析。
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| Principais autores: | , , , , , , , |
|---|---|
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Chinês |
| Publicado em: |
Editorial Department of High Voltage Apparatus
2016-01-01
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| Colecção: | Gaoya dianqi |
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | http://www.zgydq.com/zh/article/doi/10.13296/j.1001-1609.hva.2016.11.015/ |
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