Time and momentum resolved resonant magnetic x-ray diffraction on EuTe
We used fs- and ps- resonant magnetic x-ray diffraction to probe the laser-induced changes to the magnetic profile in thin films of the antiferromagnetic semicon-ductor EuTe.
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | , , , , , , , , |
|---|---|
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
EDP Sciences
2013-03-01
|
| মালা: | EPJ Web of Conferences |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | http://dx.doi.org/10.1051/epjconf/20134103014 |
| ট্যাগগুলো: |
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
