Modeling and Analysis of a Radiative Thermal Memristor
This study presents a theoretical framework for a radiative thermal memristor (RTM), utilizing Tungsten-doped vanadium dioxide (WVO) as the phase-change material (PCM) and silicon carbide (SiC) in the far-field regime. The behavior of the RTM is depicted through a Lissajous curve, illustrating the r...
சேமிக்கப்பட்டது:
| முதன்மை ஆசிரியர்கள்: | , , , |
|---|---|
| வடிவம்: | Artigo |
| மொழி: | Inglês |
| வெளியிடப்பட்டது: |
MDPI AG
2024-03-01
|
| தொடர்: | Applied Sciences |
| பொருள்கள்: | |
| ஆன்லைன் அணுகல்: | https://www.mdpi.com/2076-3417/14/6/2633 |
| குறிச்சொற்கள்: |
டாக்ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!
|