QR رمز

Determination of Temperature-Dependent Stress State in Thin AlGaN Layer of AlGaN/GaN HEMT Heterostructures by Near-Resonant Raman Scattering

The temperature-dependent stress state in the AlGaN barrier layer of AlGaN/GaN heterostructure grown on sapphire substrate was investigated by ultraviolet (UV) near-resonant Raman scattering. Strong scattering peak resulting from the A1(LO) phonon mode of AlGaN is observed under near-resonance condi...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Yanli Liu, Xifeng Yang, Dunjun Chen, Hai Lu, Rong Zhang, Youdou Zheng
التنسيق: Artigo
اللغة:Inglês
منشور في: Wiley 2015-01-01
سلاسل:Advances in Condensed Matter Physics
الوصول للمادة أونلاين:http://dx.doi.org/10.1155/2015/918428
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!