Identification of Plasmonic Absorption Profile in Surface Plasmon Microscopy Using Morphology
Surface plasmon microscopy (SPM) provides the capability of measuring surface properties of subnanometer layers within the diffraction limited order. In a typical SPM, small changes correspond to surface plasmons (SPs) absorption profile variations on a reflecting back focal plane (BFP), which can b...
சேமிக்கப்பட்டது:
| முதன்மை ஆசிரியர்கள்: | , , , , |
|---|---|
| வடிவம்: | Artigo |
| மொழி: | Inglês |
| வெளியிடப்பட்டது: |
IEEE
2018-01-01
|
| தொடர்: | IEEE Photonics Journal |
| பொருள்கள்: | |
| ஆன்லைன் அணுகல்: | https://ieeexplore.ieee.org/document/8486642/ |
| குறிச்சொற்கள்: |
டாக்ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!
|