Improved Winter Wheat Yield Estimation by Combining Remote Sensing Data, Machine Learning, and Phenological Metrics
Accurate yield prediction is essential for global food security and effective agricultural management. Traditional empirical statistical models and crop models face significant limitations, including high computational demands and dependency on high-resolution soil and daily weather data, that restr...
சேமிக்கப்பட்டது:
| முதன்மை ஆசிரியர்கள்: | , , , , , |
|---|---|
| வடிவம்: | Artigo |
| மொழி: | Inglês |
| வெளியிடப்பட்டது: |
MDPI AG
2024-08-01
|
| தொடர்: | Remote Sensing |
| பொருள்கள்: | |
| ஆன்லைன் அணுகல்: | https://www.mdpi.com/2072-4292/16/17/3217 |
| குறிச்சொற்கள்: |
டாக்ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!
|