Atomic Force Microscopy

With the advent of the atomic force microscope (AFM) came an extremely valuable analytical resource and technique useful for the qualitative and quantitative surface analysis with sub-nanometer resolution. In addition, samples studied with an AFM do not require any special pretreatments that may alt...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: Bellitto, Victor
Μορφή: Livro
Γλώσσα:Inglês
Έκδοση: IntechOpen 2012
Θέματα:
thema EDItEUR::P Mathematics and Science::PN Chemistry::PNF Analytical chemistry::PNFS Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry
Electrochemistry & magnetochemistry
Διαθέσιμο Online:https://directory.doabooks.org/handle/20.500.12854/65873
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!

Παρόμοια τεκμήρια