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Handbook of sample preparation for scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

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Détails bibliographiques
Auteur principal: Echlin, Patrick.
Format: Livro
Langue:Inglês
Publié: Springer US, 2009.
Sujets:
Accès en ligne:https://minerva.ufrj.br/F/?func=direct&doc_number=000807209&local_base=UFR01
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